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产品简介:
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参数 | 数值 |
产品目录 | 集成电路 (IC) |
描述 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
产品分类 | 逻辑 - 专用逻辑 |
品牌 | Texas Instruments |
数据手册 | |
产品图片 | |
产品型号 | SN74BCT8240ANT |
rohs | 无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
产品系列 | 74BCT |
位数 | 8 |
供应商器件封装 | 24-PDIP |
包装 | 管件 |
安装类型 | 通孔 |
封装/外壳 | 24-DIP(0.300",7.62mm) |
工作温度 | 0°C ~ 70°C |
标准包装 | 60 |
电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
逻辑类型 | 扫描测试设备,带反相缓冲器 |