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产品简介:
ICGOO电子元器件商城为您提供FQD3N60CTM_WS由Fairchild Semiconductor设计生产,在icgoo商城现货销售,并且可以通过原厂、代理商等渠道进行代购。 FQD3N60CTM_WS价格参考。Fairchild SemiconductorFQD3N60CTM_WS封装/规格:未分类, 暂无。您可以下载FQD3N60CTM_WS参考资料、Datasheet数据手册功能说明书,资料中有FQD3N60CTM_WS 详细功能的应用电路图电压和使用方法及教程。
参数 | 数值 |
产品目录 | 分立半导体产品半导体 |
ChannelMode | Enhancement |
描述 | MOSFET N-CH 600V 2.4A DPAKMOSFET 600V 2.4A N-Channel Q-FET |
产品分类 | FET - 单分离式半导体 |
FET功能 | 标准 |
FET类型 | MOSFET N 通道,金属氧化物 |
Id-ContinuousDrainCurrent | 2.4 A |
Id-连续漏极电流 | 2.4 A |
品牌 | Fairchild Semiconductor |
产品手册 | |
产品图片 | |
rohs | 符合RoHS无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求 |
产品系列 | 晶体管,MOSFET,Fairchild Semiconductor FQD3N60CTM_WSQFET® |
数据手册 | |
产品型号 | FQD3N60CTM_WS |
PCN设计/规格 | |
Pd-PowerDissipation | 50 W |
Pd-功率耗散 | 50 W |
Qg-GateCharge | 10.5 nC |
Qg-栅极电荷 | 10.5 nC |
RdsOn-Drain-SourceResistance | 3.4 Ohms |
RdsOn-漏源导通电阻 | 3.4 Ohms |
Vds-Drain-SourceBreakdownVoltage | 600 V |
Vds-漏源极击穿电压 | 600 V |
Vgs-Gate-SourceBreakdownVoltage | +/- 30 V |
Vgs-栅源极击穿电压 | 30 V |
上升时间 | 30 ns |
下降时间 | 35 ns |
不同Id时的Vgs(th)(最大值) | 4V @ 250µA |
不同Vds时的输入电容(Ciss) | 565pF @ 25V |
不同Vgs时的栅极电荷(Qg) | 14nC @ 10V |
不同 Id、Vgs时的 RdsOn(最大值) | 3.4 欧姆 @ 1.2A,10V |
产品种类 | MOSFET |
供应商器件封装 | D-Pak |
其它名称 | FQD3N60CTM_WSDKR |
典型关闭延迟时间 | 35 ns |
功率-最大值 | 50W |
包装 | Digi-Reel® |
单位重量 | 260.370 mg |
商标 | Fairchild Semiconductor |
安装类型 | 表面贴装 |
安装风格 | SMD/SMT |
导通电阻 | 3.4 Ohms |
封装 | Reel |
封装/外壳 | TO-252-3,DPak(2 引线+接片),SC-63 |
封装/箱体 | DPAK-2 |
工厂包装数量 | 2500 |
晶体管极性 | N-Channel |
最大工作温度 | + 150 C |
最小工作温度 | - 55 C |
标准包装 | 1 |
汲极/源极击穿电压 | 600 V |
漏极连续电流 | 2.4 A |
漏源极电压(Vdss) | 600V |
电流-连续漏极(Id)(25°C时) | 2.4A (Tc) |
系列 | FQD3N60 |
通道模式 | Enhancement |