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BGA测试仪

BGA测试仪

词条创建时间:2021-06-23浏览次数:362

目前IC使用率增长随之不良率及反修率也越来越高,BGA测试仪可以测试IC各脚之间开短路,对GND和VCC的clamp diode, 对地及相关脚的电阻及电容,对IC上电,量测关键点的电压等手段检测出不良IC,并能对不良情况进行统计,以便做分析并查找对策。此方式对IC可测率达到98%以上。将是IC测试的实惠快速测试的变革,为BGA封装不良返修测试提供行之有效测试解决方案。

BGA测试仪产品特点

支持GPIB外围设备扩展功能。

模块化设计,为扩展多种功能提供了测试平台。

Board View功能可即时显示不良脚位,针点位置,方便检修。

测试程序全部自动生成并ATPD(Auto Test Program Debug)。

PTI818 BGA测试仪系统具自我诊断功能及远端监控和遥控功能。

完整丰富的测试统计资料及报表,且自动储存,不因断电而遗失数据。

丰富的测试信号源及Reed Relay Switching Board,大大的保证了稳定性和测试覆盖率。

BGA测试仪测试项目

IC内部的开短路测试。

IC 内的保护二极体测试。

IC上元器件值的测试 。

封装与晶圆锡球接点的开短路测试。

对IC上电,测试关键点的电压,来检测内部功能。

Pin to Pin 、Pin to GND 、Pin to VCC 阻抗比对测试。

Pin to Pin 、pin to GND 、Pin to VCC 电容比对测试。

通用GPIB扩展来量测IC关键点波形,频率等参数。

BGA测试仪应用范围

一、大批量返修IC的检测。

二、不良IC的故障原因的查找及统计,以便改进设计。

三、IC质不高的来料检查,查出率在99.5%以上,且速度快。

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型号 库存 价格
560085-0101 80900 ¥0.093
BAT54XV2T1G 30000 ¥1.1
08-70-1039 20200 ¥0.083
43030-0001 10980 ¥0.083
SG2525AP013TR 7500 ¥3.46
M24LR64E-RMN6T/2 5000 ¥12.71
MAX5395LATA+T 3290 ¥6.64
MIC5504-3.3YM5-TR 3085 ¥0.78
BAT54XV2T1G 2740 ¥0.24
MMBD914LT1G 500 ¥0.072

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