光回波损耗测试仪

●测量速度快

该产品为用户提供了校准参数存储功能，当测试系统未发生改变时，再次开机，仪器直接调用上次关机前保存的校准参数，无须再次进行校准设置，简化了测试步骤。

另外，该产品为提高易用性，软件上做了特别设计，使得仅须简单切换按键，即可同时测量出回损和插损，大大提高了测量速度。

●动态范围大：0～70dB

该产品内部光路采用了超低反射的光器件，电路上采用了同相检测技术，使得仪器回波损耗测量范围很大，可达70dB，可以满足PC、UPC、APC端面的回损测试。

●回损、插损同时测量

该产品面板上有“功率”和“回损”按键，测试过程中，只须操作按键，简单切换，即可同时测量出被测件的回损和插损。

●测试接口易拆卸和清洁

该产品的功率端口支持多种连接方式，可配备FC型接头、万能接头或LC型接头，根据被测件接口(如FC、SC、ST、LC等)类型的不同，用户可自行拆卸更换。功率端口结构设计巧妙，拆卸简单，清洁方便。

该产品的回损端口和光源输入端口一体化设计，无需拆机即可整体拆卸，使内部光纤端头的清洁非常方便。

如下图所示，使用AV6332光回波损耗测试仪同时测量FC/UPC型跳线的回波损耗和插入损耗。

对光回波损耗测试仪进行参考反射存储、零点反射存储及插损参考点设置后，接入被测跳线，在回损测量状态下，将被测器件的后端实施光纤终止，此时测量值即为被测器件的回波损耗，释放光纤，将被测器件接入功率端口，切换到功率测量方式，此时测量值即为被测器件的插入损耗。